信用卡芯片
使用SMAL能够很好的观察到信用卡的纳米细节
石墨烯老化
使用SMAL超高分辨率微球透镜及其他光学技术,对有缺陷的样品进行了成像,以研究这种氧化特征。氧化程度可以揭示出石墨烯膜在晶界处的孔隙度,从而洞悉制造和老化过程。
矿物成像
在富含铂的岩石中可能会发生相变,由于分辨率和对比度的局限性,常规光学显微镜只能看到较大的尺寸,该特殊样品一些小的特征尺寸,是很难用普通的光学显微镜观察到的。
半导体
SMAL的空间分辨率可以解析亚衍射极限特征(图2),而传统的光学显微镜无法解决(图1)用户可以通过光学方式检查样品,获得由裂缝或灯丝桥引起的纳米级故障。用户可以检查样品是否符合预期的尺寸、形状以及它们的图形/布局。并保留光学显微镜的所有优势快速、样品无损、全真彩色。